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Couloscope CMS2电解法镀层测厚仪

Couloscope CMS2电解法镀层测厚仪

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Couloscope CMS2电解法镀层测厚仪
在電鍍富二代国产中,對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成爲不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度,並且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。

Couloscope CMS2电解法镀层测厚仪的詳細資料:

Couloscope CMS2电解法镀层测厚仪

 

電位差測試方法

  1、低壓電壓的測量

  在低壓線路中,欲測某兩點間的電壓,只要把電壓表的兩端直接接到被測的兩點即可。這種方法叫並聯法。即電壓表是並聯在線路中。如下圖所示。

  測量時應注意的事項:

  首先要估計被測電壓值的範圍,選好檔位,以免損壞儀表。一般以被測量處于zui大量程的2/3左右處較爲准確。測量直流電壓應注意極性。

  測量電壓是帶電進行的,因此要注意安全。

 

Couloscope CMS2

COULOSCOPE CMS电解多镀层库仑法测厚仪可用于测量:
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金属

COULOSCOPE CMS可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。


基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等
COULOSCOPE CMS基本配置:
仪器:            Couloscope CMS
测量台:          V24、V26、V18 等
电解液:          F1 ~ F22

 

Couloscope CMS2电解法镀层测厚仪
COULOSCOPE CMS特征:
标准:DIN EN ISO 2177 ; ASTM B504
大屏幕点阵液晶显示屏,可显示文字与图形:126 * 70 mm   
可设置和储存:50个应用程式、600个数据组;3 000个数据
统计:平均值、zui大值、zui小值、标准偏差、测量次数、Cp、Cpk 和直方图
使用多層菜單和軟鍵,使操作更方便
RS232 接口可通过电缆和传输软件将数据传到 PC
模拟输出: 0 ~ -18V
输入阻抗: > 2 KΩ
工作温度: 10 ℃ ~ 40 ℃
仪器重量: 6 kg 
电源: AC 220 V ,50-60 Hz;zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸: 350W * 140H * 200D  mm
COULOSCOPE CMS STEP 双层镍镀层测量版本
Couloscope CMS2 STEP 电解测厚仪
4種不同類型的測量台適合于測量各種種類的被測物體。


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