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PHASCOPE PMP10高级手持式测厚仪

PHASCOPE PMP10高级手持式测厚仪

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PHASCOPE PMP10高级手持式测厚仪
PHASCOPE PMP10是一款根据相位感度涡流方法快速,手持式仪器,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。简便和现场的测量镀层厚度的手提式仪器。通过选择合适的测量探頭,甚至可以达到非接触式的测量。

PHASCOPE PMP10高级手持式测厚仪的詳細資料:

PHASCOPE PMP10高级手持式测厚仪

 

PHASCOPE PMP10是一款根据相位感度涡流方法快速,手持式仪器,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。简便和现场的测量镀层厚度的手提式仪器。通过选择合适的测量探頭,甚至可以达到非接触式的测量。

儀器使用說明:

1. 在测量状态,按数字键“2、4、6、8”可翻看测量数据。 
2. 测孔壁镀Cu厚度的影响因素 
2.1 Sn 或 SnPb 镀层 
孔壁如有 SnPb 镀层,测得 Cu 厚度将偏大 1/6SnPb 厚度。例如:20um 的 Cu 镀层加 上 10um 的 SnPb 镀层,显示读数 21.6um。 
2.2 几何形状 
2.2.1 板厚:按 MENU-1-7-1 可以设置(0.7-2.5mm/28-100mils) 
2.2.2 通孔直径 
用随仪器配的标准板可调校 0.8-1.2mm 的孔,如果通孔直径大于 1.2mm,可以通 过增加探頭灵敏度的方法来补偿。例如: 
探頭灵敏度设置为 3,适合于测量通孔直径小于 2mm 而镀层厚度在 6-30um 之间; 
探頭灵敏度设置为 1.5(默认值),适合于测量通孔直径小于 3.5mm 而镀层厚度 在 6-35um 之间; 
探頭灵敏度设置为 0.5,适合于测量通孔直径小于 4.5mm 而镀层厚度在 6-35um 之间。 
按 MENU-1-7-3 可以设置探頭灵敏度,其范围为:8(zui低)-0.5(zui高) 
注:改变探頭灵敏度仅仅应用到当前应用程式。 
2.2.3 Cu 的电导率,测量时的温度,表面铜箔(该项一般忽略不记,可按 MENU-1-7-2 进行 设置,默认值 100%) 

 


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